sem是间接成像吗
SEM的工作原理 扫描电镜（SEM）是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。所以是直接成像
SEM与TEM的区别扫描电镜一种新型的电子光学仪器.它具有制样简单、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点.数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的
SEM是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,观察内部结构STEM是扫描透射,是扫描电镜里面的一个功能,可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微镜,具体功能不太清楚了.
sem与tem相比的结构特点
SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. SEM：即扫描电子显微镜，是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。  SEM的优点： （一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 （二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。 （三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。 （四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。 （五） 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。 （六） 电子束对样品的损伤与污染程度较小。 （七） 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。 SEM的缺点： ①异常反差。 由于荷电效应，二次电子发射受到不规则影响，造成图像一部分异常亮，另一部分变暗。 ②图像畸形。 由于静电场作用使电子束被不规则地偏转，结果造成图像畸变或出现阶段差。 ③图像漂移。 由于静电场作用使电子束不规则偏移引起图像的漂移。 ④亮点与亮线。 带电样品常常发生不规则放电，结果图像中出现不规则的亮点和亮线。 TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope. TEM：即透射电子显微镜，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”  TEM的优点
